瑞典百欧林科技有限公司产品一览
QSense®耗散型石英晶体微天平(QCM-D)
技术和仪器能够实时分析分子相互作用和监测表界面质量与结构变化。多种型号、测试模块和100多种芯片表面供选择,芯片表面支持定制。
KSV NIMA LB 膜沉积和表征工具
Langmuir 和Langmuir-Blodgett 膜分析仪、布鲁斯特角显微镜、界面剪切流变仪等系列产品用于在气液界面、液液界面、气固界面上有序的单层和多层结构的组装和表征,使薄膜制造和表征领域的前沿创新成为可能。
Attension®表面张力/接触角测量仪
能够为工业研发和学术研究提供精确的表面张力、接触角、表面自由能等测量。