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热门关键词：石英晶体微天平，耗散型石英晶体微天平，QCM-D，LB膜分析仪，布鲁斯特角显微镜，界面剪切流变仪，光学接触角测量仪，表面张力测量仪，薄膜制备与分析仪器

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KSV NIMA 单分子层薄膜制备解决方案

发表时间：2025/5/23      点击次数：9

KSV NIMA 薄膜制备解决方案的主要特点：


精确控制分子堆积密度

精确控制镀膜厚度

能够实现大面积、各向同性分子沉积

可进行多组分、多层膜的沉积

能够在任何固体基材上沉积镀膜

布鲁斯特角显微镜可以对预沉积薄膜进行

检测，镀膜质量提前掌控


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