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QSense 石英晶体微天平
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详细介绍
ALD样品架的设计是芯片两侧开放,可防止芯片两侧的压力变化不均匀,因而可以在低/高气压环境下进行测量。ALD样品架通过线缆连接到样品台。测量信号通过两个独立的线缆穿过各种低压或者高压腔体传送到QCM-D电子单元。
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TEL:18612271669