耗散型石英晶体微天平Q-sense E1

在线的、实时地跟踪分子间的相互作用

    越来越多发表的科学文献证明了QCM-D系统的技术可靠性。该技术的核心是石英晶体在负载电压下以一个特定频率振荡。当晶体上的质量改变时，振荡的共振频率也会随之变化。通过这种方法，可以在纳克级灵敏度上测定质量变化。

    这种*的Q-Sense设计可以同时测量耗散因子，从而提供薄膜的结构和粘弹性信息。它可以提供诸如吸附膜的分子结构、厚度、水含量的信息。此外还可以检测反应前、进行中和结束后的表面吸附层的变化。耗散因子是指当电路断开后震荡的晶体频率降低到0的时间快慢。

    任何可在传感器上形成薄膜的物质都可以进行免标记测试，这些物质包括聚合物、金属和化学改性表面。实时测试系统每秒可提供高达200个数据点。

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