耗散型石英晶体微天平Q-sense E4

    Q-Sense E4是一种检测吸附在表面上的分子反应机制的实时分析仪器。当分子层在传感器表面质量发生变化或者结构发生改变时，E4可以测量分子层的变化。在材料、蛋白质和表面活性剂等领域的研究中，Q-Sense E4设备起到了关键作用。

    从快速仪器入门使用，到高质量数据分析，Q-Sense E4提供了一套完整的解决方案。仪器有四个流动模块，每一个模块都配备一个传感器，可以进行四个平行测试。多种可选模块，例如电化学QCM-D，可以进行联用测试。我们的产品提供包括硬件、软件、和让您可以快速开始研究所需的介绍、培训以及实验结果解析。

    Q-Sense E4设备基于极其灵敏和快捷的技术，带耗散因子检测的石英晶体微天平(QCM-D)。该设备的核心是传感器在加载电压的作用下以特定频率下振荡。当传感器上的质量发生变化时，其振荡频率会随之变化(1)。断开电路会导致振荡衰减。衰减速率或者耗散因子与传感器上的分子层粘弹性有关(2)。通过测定频率和耗散，QCM-D可以分析吸附在传感器表面的分子层状态，包括质量、厚度和结构性质(粘弹性)。

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